一、考試要求
主要考查學(xué)生對(duì)經(jīng)典控制理論、現(xiàn)代控制理論的基本概念、基本原理、基本方法的理解與掌握程度;重點(diǎn)考查學(xué)生運(yùn)用控制系統(tǒng)建模、分析和設(shè)計(jì)方法解決典型控制問題的基本能力。
二、考試內(nèi)容
1.經(jīng)典控制理論
控制的基本概念,簡單電路、機(jī)械系統(tǒng)和直流電機(jī)的物理建模,物理系統(tǒng)的微分方程及線性化,傳遞函數(shù)、框圖化簡及Mason增益公式,系統(tǒng)的時(shí)間響應(yīng)、主導(dǎo)極點(diǎn)及時(shí)域性能指標(biāo)計(jì)算、直流增益、穩(wěn)態(tài)誤差和穩(wěn)態(tài)誤差系數(shù)計(jì)算、干擾引起的穩(wěn)態(tài)誤差計(jì)算,系統(tǒng)的穩(wěn)定性及勞斯判據(jù),根軌跡的手工繪制、根軌跡關(guān)鍵特征點(diǎn)計(jì)算;系統(tǒng)的頻率響應(yīng)、Bode圖的手工繪制及簡單傳遞函數(shù)辨識(shí)、開環(huán)頻域指標(biāo)與系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能計(jì)算、Nyquist圖手工繪制和Nyquist穩(wěn)定性判據(jù);基于根軌跡的控制器設(shè)計(jì)(P、PD、PI、PID、超前和滯后)和前置濾波器設(shè)計(jì),基于頻域指標(biāo)的控制器設(shè)計(jì)(超前、滯后)。
2.現(xiàn)代控制理論
物理系統(tǒng)的連續(xù)狀態(tài)方程描述、系統(tǒng)的能控性和能觀性、極點(diǎn)配置控制器設(shè)計(jì)、狀態(tài)觀測(cè)器設(shè)計(jì),Lyapunov穩(wěn)定性、LQR設(shè)計(jì)方法,
三、考試形式
考試形式為閉卷、筆試,考試時(shí)間為3小時(shí),滿分150分。
題型包括:簡答題、計(jì)算題、分析設(shè)計(jì)題等,
四、參考書目
1.《現(xiàn)代控制系統(tǒng)(第十三版)》,RichardC.Dorf,RobertH.Bishop著,謝紅衛(wèi)等譯,電子工業(yè)出版社,2023年,
2.《自動(dòng)控制原理》,宮二玲、沈輝、白圣建等編著,機(jī)械工業(yè)出版社,2023年,
3.《自動(dòng)控制原理(第七版)》,胡壽松主編,科學(xué)出版社,2019年。